Programma
10.00-10.10 Introduzione alla Giornata
Breve chiacchierata sullo scontro tra scienza “pura” e “applicata”, in un romanzo di Andrea Camilleri
Nicola Giaquinto (Politecnico di Bari)
L’ironia del famoso romanziere si è esercitata anche sulla scienza che non sa confrontarsi con la pratica. Qualche citazione per sorridere, e per riflettere sul fatto che ricercare significa studio, rigore scientifico, ma anche umiltà, e capacità di imparare anche da chi “non conosce il latino”.
10.10-10.40 Sistemi di misura basati su droni: applicazioni e valutazione dell’incertezza
Luca De Vito (Università del Sannio)
Partendo dalle applicazioni di misura in cui i droni trovano comunemente impiego, la presentazione evidenzia come gli aspetti metrologici della piattaforma di misura risultano essere determinanti per la qualità del risultato finale. È evidenziata l’influenza del drone sui vari punti della catena di misura, e il suo effetto sull’incertezza di misura in alcune tipiche applicazioni.
10.40-11.10 Sviluppo e gestione metrologica di sistemi di acquisizione dati
Alessio Carullo (Politecnico di Torino)
La presentazione fornisce le linee guida per lo sviluppo di sistemi di acquisizione dati multicanale, mirate ad una gestione metrologica sostenibile. Sono evidenziati, inoltre, i principali contributi di incertezza che intervengono nell'intera catena di misura, con riferimento ad alcuni esempi applicativi.
11.10-11.40 Decisioni da misure incerte e/o incomplete
Giovanni Mana (INRIM)
La presentazione illustra, mediante problemi di stima e ottimizzazione, come esprimere il risultato e l'incertezza di misurazioni comprimendo i dati in una rappresentazione sintetica, e come prendere decisioni logicamente consistenti sulla base di dati incerti e/o incompleti. Si considera sia il punto di vista frequentistico (dove l'accento è sulla distribuzione di probabilità delle misure) che Bayesiano (dove l'accento è sulle assegnazioni di probabilità ai possibili valori del misurando).
11.50-12.10 ES01718 Accreditamento: istruzioni per l’uso (ACCREDIA)
Informazioni utili per i laboratori interessati all’accreditamento
12.20-12.50 Misure di compatibilità elettromagnetica: mito e realtà
Giancarlo Borio (IMQ – LACE, LAboratorio di Compatibilità Elettromagnetica)
La presentazione fornisce indicazioni sulle norme che regolano l'incertezza nelle misure EMC. Viene analizzato il corretto approccio ai limiti indicati nella normativa, e sono valutati i problemi che nascono nel confronto tra le misure eseguite in laboratori diversi. Infine, sono presentati problemi reali di misura, sia nel campo delle Emissioni sia in quello dell'Immunità.
12.50-13.20 L’affidabilità come requisito di progetto
Lorenzo Ciani (Università di Firenze)
La presentazione tratta il Design for Reliability, una disciplina in continua evoluzione il cui oggetto sono metodi e modelli per prevedere, valutare e dimostrare l'affidabilità, la disponibilità, la manutenibilità e la sicurezza di componenti, sottosistemi e sistemi complessi. Si mostra la sua applicazione in molteplici settori, la sua evoluzione, e il ruolo decisivo delle misure per limitare al massimo le conseguenze relative dell’insorgere di guasti.
13.20-13.30 Conclusioni
XLI Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche
Quest'anno il XLI Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche e il XXXII Congresso Nazionale di Misure Meccaniche e Termiche daranno vita al VIII Forum Nazionale delle Misure. La sede di Pisa è lieta di invitarvi a partecipare a questo importante evento scientifico che sarà un momento di incontro per tutti i ricercatori e gli esperti italiani operanti nel settore delle Misure. Il Forum si terrà dal 12 al 14 settembre 2024 presso il Garden Toscana Resort - San Vincenzo (LI).
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